Mètodes d'assaig i normes d'inspecció
1. Inspecció lot per lot (inspecció del grup A)
Cada lot de productes s'ha d'inspeccionar segons la taula 1, i tots els articles de la taula 1 no són destructius.
Taula 1 Inspecció per lot
| Grup | InspectionItem | Mètode d'inspecció | Criteri | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Aparença | Inspecció visual (en condicions normals d'il·luminació i visió) | El logotip és clar, el recobriment de la superfície i el revestiment estan lliures de descamació i danys. | 1.5 |
| A2a | Característiques elèctriques | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) a JB/T 7624—1994 | Polaritat invertida: VFM> 10 USLIRRM> 100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4,1 (25 ℃) a JB/T 7624—1994 | Reclamació als requisits | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) a JB/T 7624—1994 | Reclamació als requisits | ||
| Nota: USL és el valor límit màxim. | ||||
2. Inspecció periòdica (inspecció del grup B i del grup C)
Segons la Taula 2, els productes finalitzats en producció normal s'han d'inspeccionar almenys un lot del grup B i del grup C cada any, i els elements d'inspecció marcats amb (D) són proves destructives.Si la inspecció inicial no està qualificada, el mostreig addicional es pot tornar a inspeccionar segons la taula A.2 de l'apèndix, però només una vegada.
Taula 2 Inspecció periòdica (Grup B)
| Grup | InspectionItem | Mètode d'inspecció | Criteri | Pla de mostreig | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Cicle de temperatura (D) seguit de segellat |
| Mesura després de la prova: VFM≤1,1 USLIRRM≤2USLno fuites | 6 | 1 |
| CRRL | Doneu breument els atributs rellevants de cada grup, el VFMi joRRMvalors abans i després de la prova, i la conclusió de la prova. | ||||
3. Inspecció d'identificació (inspecció del grup D)
Quan el producte s'acaba i es posa en valoració de producció, a més de les inspeccions del grup A, B, C, la prova del grup D també s'ha de fer segons la taula 3, i els elements d'inspecció marcats amb (D) són proves destructives.La producció normal de productes acabats s'ha de provar almenys un lot del grup D cada tres anys.
Si la inspecció inicial falla, es pot tornar a inspeccionar el mostreig addicional d'acord amb la taula de l'apèndix A.2, però només una vegada.
Taula 3 Prova d'identificació
| No | Grup | InspectionItem | Mètode d'inspecció | Criteri | Pla de mostreig | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Prova de càrrega del cicle tèrmic | Temps de cicle: 5000 | Mesura després de la prova: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Xoc o vibració | 100 g: mantingui 6 ms, forma d'ona semisinusoïdal, dues direccions de 3 eixos mútuament perpendiculars, 3 vegades en cada direcció, un total de 18 vegades. 20 g: 100 ~ 2000 Hz, 2 h de cada direcció, 6 h total. | Mesura després de la prova: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Doneu breument les dades d'atributs rellevants de cada grup, el VFM, IRRMi joDRMvalors abans i després de la prova, i la conclusió de la prova. | |||||
Marcatge i embalatge
1. Marca
1.1 Marca al producte inclòs
1.1.1 Número de producte
1.1.2 Marca d'identificació del terminal
1.1.3 Nom de l'empresa o marca comercial
1.1.4 Codi d'identificació del lot d'inspecció
1.2 Logotip a la caixa o instruccions adjuntes
1.2.1 Model de producte i número estàndard
1.2.2 Nom i logotip de l'empresa
1.2.3 Senyals a prova d'humitat i de pluja
1.3 Paquet
Els requisits d'embalatge del producte han de complir amb la normativa nacional o els requisits dels clients
1.4 Document de producte
El model del producte, el número estàndard d'implementació, els requisits especials de rendiment elèctric, l'aspecte, etc. s'han d'indicar al document.
Eldíode de soldaduraproduït per Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor s'aplica àmpliament a la soldadura de resistència, la màquina de soldadura de mitjana i alta freqüència de fins a 2000 Hz o superior.Amb una tensió de punta ultra baixa, una resistència tèrmica ultra baixa, una tecnologia de fabricació d'última generació, una excel·lent capacitat de substitució i un rendiment estable per als usuaris globals, el díode de soldadura de Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor és un dels dispositius més fiables de la potència de la Xina. productes semiconductors.
Hora de publicació: 14-juny-2023